雙頻激光干涉儀是一種常用的實驗室儀器，可以用于測量長度、形狀、表面粗糙度等物理量。它基于干涉原理，利用激光源發出兩個頻率不同的激光束，通過干涉產生干涉條紋來進行測量。在激光干涉儀中，激光源會發出兩個頻率不同的激光束，其中一個激光束為參考光，另一個激光束則被用來測量待測物體的位移或形變。這兩束激光束會經過分束器和反射鏡，最終在檢測器上產生干涉信號。

　　雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎上發展的一種外差式干涉儀。和單頻激光干涉儀一樣，激光干涉儀也是一種以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。可以在恒溫，恒濕，防震的計量室內檢定量塊，量桿，刻尺和坐標測量機等。它既可以對幾十米的大量程進行精密測量，也可以對手表零件等微小運動進行精密測量，既可以對幾何量如長度、角度.直線度、平行度、平面度、垂直度等進行測量，也可以用于特殊場合，諸如半導體光刻技術的微定位和計算機存儲器上記錄槽間距的測量等等。

　　以下是雙頻激光干涉儀的主要結構組成部分：

　　1、激光器：使用兩個激光器作為光源，分別發射具有不同頻率的激光束。這些激光器通常是穩定的單縱模激光器，能夠提供相干性良好的激光光源。

　　2、光路系統：光路系統用于引導和控制激光束的傳輸和干涉。它通常包括光束分束器、反射鏡、透鏡、干涉儀等光學元件。光路系統的設計和調整對于保證干涉儀的穩定性和精度至關重要。

　　3、干涉儀：干涉儀是核心部分，用于實現激光的干涉效應。常見的干涉儀結構包括馬赫-曾德爾干涉儀（Michelson Interferometer）、擴展馬赫-曾德爾干涉儀（Michelson-Morley Interferometer）等。干涉儀通過將兩束激光束進行干涉，產生干涉條紋，從而實現測量。

　　4、探測器：探測器用于檢測干涉儀中的干涉信號，并將其轉換為電信號。常用的探測器包括光電二極管、光電倍增管、光電探測器等。探測器的選擇和性能對于測量的靈敏度和精度具有重要影響。

　　5、信號處理系統：信號處理系統用于接收、放大和處理探測器輸出的電信號。它通常包括放大器、濾波器、模數轉換器等。信號處理系統能夠提取干涉信號中的有用信息，并進行數字化處理和分析。

　　6、控制系統：控制系統用于控制激光器、光路系統和信號處理系統的工作。它可以通過調節激光器頻率、干涉儀光程差等參數，實現對測量過程的控制和調整。