詳細介紹
品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 價格區間 | 面議 |
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產品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 | 產地類別 | 國產 |
應用領域 | 環保,能源,電子,電氣,綜合 |
中圖儀器SuperViewW1白光三維輪廓測量儀由照明光源系統,光學成像系統,垂直掃描系統以及數據處理系統構成。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析,并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數,從而實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。
SuperViewW1白光三維輪廓測量儀的雙通道氣浮隔振系統設計,既可以接入客戶現場的穩定氣源也可以采用便攜加壓裝置直接加壓充氣,在無外接氣源的條件下也可穩定工作,可以有效隔絕地面傳導的振動,同時內部隔振系統能夠有效隔絕聲波振動,確保儀器在車間也能正常工作。
(1)設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;
(2)測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調亮度等自動化輔助功能;
(3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區域測量功能;
(4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區域提取等四大模塊的數據處理功能;
(5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;
(6)分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。
對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。
應用范例:
在3C領域,可以測量藍寶石屏、濾光片、表殼等表面粗糙度;
在LED行業,可以測量藍寶石、碳化硅襯底表面粗糙度;
在光纖通信行業,可以測量光纖端面缺陷和粗糙度;
在集成電路行業,可以測量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度;
在EMES行業,可以測量臺階高度和表面粗糙度;
在軍事領域,可以測量藍寶石觀察窗口表面粗糙度。
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型號 | W1 | |
光源 | 白光LED | |
影像系統 | 1024×1024 | |
干涉物鏡 | 標配:10× 選配:2.5×;5×;20×;50×;100× | |
光學ZOOM | 標配:0.5× 選配:0.375×;0.75×;1× | |
物鏡塔臺 | 標配:3孔手動 選配:5孔電動 | |
XY位移平臺 | 尺寸 | 320×200㎜ |
移動范圍 | 140×100㎜ | |
負載 | 10kg | |
控制方式 | 電動 | |
Z軸聚焦 | 行程 | 100㎜ |
控制方式 | 電動 | |
Z向掃描范圍 | 10 ㎜ | |
主機尺寸(長×寬×高) | 700×606×920㎜ |
懇請注意:因市場發展和產品開發的需要,本產品資料中有關內容可能會根據實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。
如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯系中圖儀器咨詢。
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