chotest國產白光干涉儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器,它以白光干涉技術原理,對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。
?VT6000系列轉盤共聚焦光學顯微鏡擅長微納級粗糙輪廓的檢測,能夠清晰地展示微小物體的圖像形態細節,顯示出精細的細節圖像,以提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。它具有直觀測量的特點,能夠有效提高工作效率,更加快捷準確地完成日常任務。借助共聚焦顯微鏡,能有效提高工作效率,實現更準確的操作。
CHOTEST中圖儀器SuperViewW1白光干涉三維輪廓儀通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,是一款對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器,專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。
VT6000系列3d共聚焦顯微鏡能夠清晰地展示微小物體的圖像形態細節,顯示出精細的細節圖像。它具有直觀測量的特點,能夠有效提高工作效率,更加快捷準確地完成日常任務。借助共聚焦顯微鏡,能有效提高工作效率,實現更準確的操作。
除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外,SuperViewW1白光干涉儀品牌具有的測量晶圓翹曲度功能,非常適合晶圓,太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量,應變測量以及表面形貌測量。
自設計之初,VT6000共聚焦激光顯微鏡便定下了“簡單好用”四字方針的目標。儀器整體由一臺輕量化的設備主機和電腦構成,控制單元集成在設備主機之內,亦可采用筆記本電腦驅動,實現了“拎著走”的便攜式設計。
中圖白光干涉儀SuperViewW1利用光學干涉原理,能夠以優于納米級的分辨率,非接觸測量樣品表面形貌,廣泛應用于光學,半導體,材料,精密機械等等領域,用于表面形貌紋理,微觀結構分析。測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
VT6000系列激光共聚焦顯微鏡結合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測,對大坡度的產品有更好的成像效果,在滿足精度的情況下使用場景更具有兼容性。
微信掃一掃