NS系列高精度薄膜臺階測量儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器,主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。在膜厚測量方面,它是利用光學(xué)干涉原理,通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度,具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優(yōu)點。
NS系列沉積薄膜高度臺階儀能夠測量納米到330μm或1050μm的臺階高度,可以準(zhǔn)確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。
NS系列國產(chǎn)臺階儀測量膜厚儀器是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器,其主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。它采用了線性可變差動電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率。
NS系列納米測厚臺階儀采用了線性可變差動電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率,同時,其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測量精度和測量重復(fù)性。
中圖儀器NS系列國產(chǎn)臺階儀快速測量效率高,集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測量精度和測量重復(fù)性。主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。
NS200印刷電路板臺階高度測量儀具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率,同時,其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測量精度和測量重復(fù)性。
NS系列國產(chǎn)薄膜臺階測量儀采用了線性可變差動電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率,同時,其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測量精度和測量重復(fù)性。
NS系列薄膜臺階測量儀利用光學(xué)干涉原理,通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度,此外還可以用于表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量,具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優(yōu)點。
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