中圖儀器激光掃描共聚焦顯微鏡技術集成X、Y、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦等測量前工作。結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析,并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數,從而實現器件表面形貌3D測量。
SuperViewW1白光測量光學干涉儀用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中,對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量??梢詼y量可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
以共聚焦技術為原理的VT6000光學共聚焦掃描顯微鏡,是用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。儀器基于共聚焦顯微技術,結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,可以對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,實現器件表面形貌3D測量。
SuperViewW1白光干涉顯微輪廓儀設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;以白光干涉技術為原理,可對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,從而實現器件表面形貌3D測量。能對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。
中圖儀器VT6000共聚焦激光掃描顯微鏡主要采用3D捕獲的成像技術,通過數碼相機針孔的高強度激光來實現數字成像,具有很強的縱向深度的分辨能力;以轉盤共聚焦光學系統為基礎,結合高穩定性結構設計和3D重建算法,共同組成測量系統。能測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數。
中圖儀器NS200國產臺階儀采用接觸式表面形貌測量,對測量表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求,樣品適應面廣,數據復現性高、測量穩定、便捷、高效,是微觀表面測量中使用廣泛的微納樣品測量手段。
中圖儀器VT6000系列共聚焦顯微鏡擅長微納級粗糙輪廓的檢測,所展現的放大圖像細節要高于常規的光學顯微鏡。它是以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析,并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數,從而實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。
SuperViewW1白光干涉儀粗糙度儀用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量??蓪Ω鞣N產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。
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