簡要描述:中圖儀器的SuperView W1三維白光形貌干涉儀一體化操作的測量與分析軟件,提供調(diào)整位置、糾正、濾波、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能,自動(dòng)統(tǒng)計(jì)測量數(shù)據(jù)并提供數(shù)據(jù)報(bào)表導(dǎo)出功能,可實(shí)現(xiàn)批量測量功能。能真實(shí)地反映零件表面的特征以及衡量表面的質(zhì)量。
詳細(xì)介紹
品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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外形尺寸 | 900x700x604mmmm | 重量 | 90kg |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 | 測量范圍 | 140x110x100mm |
準(zhǔn)確測量和評價(jià)精密加工件的三維形貌,對提高加工表面的質(zhì)量和產(chǎn)品性能有重要的意義。在超精密加工顯微測量場景中,中圖儀器SuperView W1三維白光形貌干涉儀發(fā)揮的作用可以用“見一葉而知深秋,窺一斑而見全豹"來形容。大多數(shù)的場景只需要檢測一個(gè)數(shù)十、數(shù)百微米的區(qū)域,就能達(dá)到效果,但是在少數(shù)超精密器件的三維形貌場景中,借助中圖儀器的白光干涉儀自動(dòng)拼接功能,可以實(shí)現(xiàn)高精度、大區(qū)域的測量。
產(chǎn)品參數(shù)
示例應(yīng)用
現(xiàn)有的接觸式測量方法具有測量速度慢、易劃傷測量表面的缺點(diǎn),而單一的光學(xué)非接觸測量方法難以完成對大面形或曲率較大的高反射曲面零件三維形貌的高精度測量。中圖儀器SuperView W1白光干涉儀實(shí)現(xiàn)了超精密加工高反射曲面三維形貌的高精度非接觸測量。當(dāng)傳統(tǒng)測量儀器必須測量超出適配鏡頭下的單視場區(qū)域時(shí),會(huì)采用自動(dòng)拼接,而中圖儀器的白光干涉儀,可根據(jù)不同表面特點(diǎn)進(jìn)行重建算法的切換,并且具有以下優(yōu)勢:
1、行業(yè)領(lǐng)域和應(yīng)用對象廣
對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。
2、軟件功能豐富
(1)多種數(shù)據(jù)處理方式;
(2)多種分析工具;
(3)可視化工作流模式;
(4)多樣化的視圖觀察角度;
(5)多種分析方案,可進(jìn)行一鍵分析;
(6)便捷的實(shí)時(shí)提取表面二維剖面,同步計(jì)算更新參數(shù)指標(biāo)的同步分析功能;
(7)多種報(bào)表形式。
中圖儀器研發(fā)生產(chǎn)的SuperView W1三維白光形貌干涉儀,分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,操作簡便,可自動(dòng)聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)。適用于各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、臺階高度、粗糙度、孔隙間隙、波紋度、表面缺陷、腐蝕情況、面形輪廓、彎曲變形情況、磨損情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。
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