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白光干涉3D輪廓儀

簡要描述:SuperViewW1白光干涉3D輪廓儀可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等.

  • 更新時間:2024-05-12
  • 產品型號:SuperViewW1
  • 廠商性質:生產廠家
  • 訪  問  量:1361

詳細介紹

品牌CHOTEST/中圖儀器產地類別國產
外形尺寸900×700×604mm重量150kg
應用領域生物產業,能源,航天,汽車,綜合

SuperViewW1白光干涉3D輪廓儀結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析,并獲取反映器件表面質量2D、3D參數。


產品功能

1)具備各種類型樣品表面微觀形貌的3D輪廓重建與測量功能;

2)具備表面粗糙度和微觀輪廓的檢測功能,粗糙度范圍涵蓋0.1nm到數十微米的級別;

3)具備校平、去除形狀、去噪、濾波等數據處理功能;

4)具備粗糙度分析、輪廓分析、結構分析、功能分析等表面參數分析功能;

5)具備自動對焦、自動測量、自動多區域測量、自動拼接測量等自動化功能;

6)具備一鍵分析、多文件分析等快速、批量分析功能;

7)具備word、excel等數據報表導出功能。


SuperViewW1光學3D表面輪廓儀,國產白光干涉儀品牌.jpg


產品性能

縱向掃描:≤10.3mm,與選用物鏡相關

掃描幀速:50FPS/s

粗糙度重復性:0.005nm(依據ISO 25178-2012)

光學分辨率:0.4μm~3.7μm,與選用物鏡相關

至大點數:1048576(標準)

臺階測量:準確度≤0.3%,重復性≤0.08%1σ


SuperViewW1白光干涉3D輪廓儀可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中??蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據ISO/ASME/EUR/GBT四大國內外標準共計300余種2D、3D參數作為評價標準。

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